U 盘静态下数据完整性

之前发过一个帖子 /t/629156

于是干脆手上几个空闲 U 盘均实际测试一下了 1-3 号 U 盘在 2020-06-20 写入,4-6 好 U 盘在 2020-06-22 写入,基本上可以认为都静态存放了 1 年,所有文件都是随机生成的一万个 32K 文件,U 盘格式化为 exFAT 格式校验使用 flashsfv U 盘检测使用 ChipGenius_v4_19_0319

U 盘状态

1 号 U 盘:朗科 U195 32G USB 2.0 接口,从缝隙看是个黑色一体封装 U 盘,无法读取主控和闪存型号,这也是唯一一个长期通电使用的 U 盘. 实际上并未撑到 1 年时间,在 2021-01-27 即因正在使用的 key 文件出错(在此之前已经出现 key 文件数量减少的情况),只能重新写入,截至今日,原文件仅存 2391/10000,出错率 18/2391,如果把缺失文件算上,实际上的出错率应该高达 7627/10000
2 号 U 盘:宜家沙发形状 U 盘,8G,USB 2.0 接口,主控 Alcor Micro,闪存 SanDisk SDTNPMAHEM-008G - 1CE/Single Channel [MLC-8K] 原本以为这个 U 盘成绩不会特别好,但是实际结果文件完整性 100% 但是,这个 U 盘还存有一份与 6 号 U 盘相同,但是在测试开始之前就已经损坏的文件,这份测试文件由于当时并未做详细记录,在今天出错率为 52/10000,但是由于这个测试文件与 6 号测试文件出错概率并不一样,因此可以断定,这份文件依然产生了损坏,修正后数据为 33/10000
3 号 U 盘:金士顿 DTSE9 8G USB2.0 主控 Solid State Systems,闪存 Toshiba TC58TEG6TCKTA00 - 1CE/Single Channel [TLC-8K] 比较古老的一个金士顿低端 U 盘,金属外壳,对成绩不报太大期待,因为在之前的帖子里提到数据损失就是这个型号的 U 盘,不过之前是长期插电,这次是没有插电,实测完整性为 100%
4 号 U 盘:东芝 MX 64G USB 3.0 接口,主控 SK6211BB/TC58NC6686G1F 闪存无法读取东芝出的比较高端的一个 U 盘,写入速度可以达到 100MB/s,测试之前认为这个 U 盘应该毫无问题,实际结果也是如此,完整性 100%
5 号 U 盘:夏科 32G USB2.0 接口,主控 FirstChip,闪存 Intel - 1CE/Single Channel [TLC] 薅羊毛 9.9U 盘,金属外壳,有天猫标志,TLC 颗粒基本不太有期待,不过实际结果居然是 100%
6 号 U 盘:实际上 6 号并非是 U 盘,而是本机的 SSD.PM981,文件存放在桌面,电脑 7*24 开机,但是在测试期间并未去读取和覆盖过测试文件. 测试文件直接测试结果为 20/10000,但是在 2 号 U 盘中也说明了,这份测试文件本身就是有问题的,经过和 2 号文件交叉对比,修正后数据为 3/10000

结论

其实如果排除掉 2 号和 6 号的存疑,那么我们几乎可以得出,主控芯片明确,闪存芯片没有问题的 U 盘,可以稳定的保存数据至少 1 年而不损坏. 但是鉴于 10000 个文件,总大小也仅为 156M,即使是最小容量的 8G,也仅仅占了很小的一部分,所以似乎这个测试说服力也是不足够的,特别是 2 号 U 盘的状况,2 份测试文件,一份可以通过,一份确损坏了很多 6 号 U 盘也就是 SSD 的测试更是让人担心数据完整性